AXIOM系列 X射線鍍層測厚儀
AXIOM系列
適用于：|電子和電器|PCB|連接器|珠寶|電鍍液分析|緊固件|硬件|
AXIOM鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在極少甚至無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的21Ti到92U 。
AXIOM配備超高分辨率的探測器，是檢測超薄鍍層和痕量級元素成分的理想儀器。
一、功能：
1、性能及符合性：
通過PTB認證，符合*高輻射**標準
檢測方法通過ISO 3497，ASTM B568，DIN 50987和IEC 62321等認證
開槽式大樣品臺
可編程的XY樣品臺
樣品腔體積（寬/深/高）：600 X 500 X 172.5mm（W X D X H）
特殊的防撞設(shè)計
2、可編程的樣品臺
預(yù)定位激光技術(shù)
*大化樣品臺行程范圍及速度
自動測量
3、軟件及校準
基于WINDOWS 10操作系統(tǒng)
選擇經(jīng)驗校準以實現(xiàn)*大準確性或選擇FP無標樣模式以輕松
成分分析：可自由選擇元素，同時實現(xiàn)多于20種元素的定量分析
厚度測量：可自定義鍍層結(jié)構(gòu)，*多同時測定5層
二、特點
采用微聚焦硼窗X射線光管，實現(xiàn)高精度、高可靠性，測量時間短、
使用壽命長、購置成本低
采用高分辨SDD探測器，提供能量級別的*佳效率，
極低的檢出限(LOD)
多準直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號產(chǎn)額，提高測量效率
開槽式超大樣品艙設(shè)計，十分適合標準及超大樣品
“USB接口”只需通過USB與計算機連接，無需額外硬件。
德國技術(shù)，符合*高工程標準
堅固耐用的設(shè)計可實現(xiàn)長期可靠性
通過PTB認證，滿足*高輻射**標準
三、操作步驟
1、將樣品放在大樣品臺上
無損分析：無需樣品制備
樣品易定位，大艙門和開槽設(shè)計有利于大型平板樣品
操作**
側(cè)窗式：更易觀察到樣品
2、選擇樣品測量點
精準的測量點定位—高分辨率和高放大倍率的彩色影像裝置
操縱桿或鼠標控制實現(xiàn)快速簡便的樣品定位
以客戶定制的分析模式完成單點或多點分析
3、結(jié)果報告
高清彩**像，易于識別
測試結(jié)果一鍵導(dǎo)出到Word，Excel，HTML和PDF格式
客戶定制的報告，簡單，靈活
